红外与激光工程  2014, Vol. 43 Issue (11): 3627-3632    
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接触线几何参数CCD交汇测量分辨率及精度分析
潘雪涛1,2,3, 高晓俭1, 谷牧1, 孟飞1, 蔡建文1
1. 常州工学院 光电工程学院, 江苏 常州 213002;
2. 上海大学 机电工程与自动化学院, 上海 200072;
3. 常州市光电子材料与器件重点实验室, 江苏 常州 213002
Resolution and accuracy analysis of CCD intersection measuring on contact wire geometry parameters
Pan Xuetao1,2,3, Gao Xiaojian1, Gu Mu1, Meng Fei1, Cai Jianwen1
1. School of Optoelectronic Engineering, Changzhou Institute of Technology, Changzhou 213002, China;
2. School of Mechatronical Engineering and Automation, Shanghai University, Shanghai 200072, China;
3. Changzhou Key Laboratory of Optoelectronic Materials and Devices, Changzhou 213002, China
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